Профилометр интерференционный компьютерный ПИК-30М
Доставка до адреса
При заказе от 20 000 ₽ - доставка бесплатно!
Самовывоз
- Описание
ПИК-30М предназначен для измерения относительных высот профиля поверхности (топограмм) полированных изделий, в том числе подложек сферических зеркал, диаметр которых не превышает 30 мм, высота не превышает 10 мм, а радиус кривизны лежит в диапазоне от 2 м до 7 м.
ПИК-30М позволяет работать с полированными изделиями без зеркального покрытия, коэффициент отражения которых не менее 4%.
ПИК-30М позволяет измерять участки крупногабаритных деталей до 150 мм.
Принцип действия прибора основан на интерференции световых пучков лазерного излучения, отраженного от плоского зеркала и поверхности измеряемого изделия. В основе прибора лежит оптическая схема интерферометра Тваймана-Грина.
Прибор состоит из двух частей: интерферометра и блока управления и обработки информации.
В интерферометре световой поток от He-Ne лазера, пройдя через коллимирующее устройство, попадает на светоделительную призму, после которой направляется в предметное и опорное плечи интерферометра. В предметном плече располагается исследуемое изделие, закрепленное в специальной оправке, в опорном – плоское зеркало. Отразившись от предмета и плоского зеркала световые пучки сходятся на светоделительной призме. Интерференционное изображение строится объективом в плоскости регистратора – ПЗС камеры.
Компьютерная расшифровка интерферограмм производится по методу дискретного фазового сдвига, вносимого плоским зеркалом, сдвигаемым пьезоэлементом. В результате обработки интерферограмм восстанавливается двумерная карта высот профиля поверхности объекта (топограммы) относительно начальной точки, выбираемой оператором.
Программное обеспечение для обработки полученных топограмм позволяет вычислять:
- Радиус кривизны сферических поверхностей;
- Среднее квадратическое отклонение и предельное отклонение измеренной топограммы от плоской и сферической поверхности;
- «Децентровку» сферической поверхности относительно геометрического центра подложки сферического зеркала в диапазоне от 0,1 мм до 5,0 мм.
Измерение профиля поверхности и кривизны сферического зеркала
Состав:
- Профилометр интерференционный компьютерный ПИК-30М - 1 шт.;
- ПЭВМ - 1 шт.;
- Ложемент - 2 шт.;
- Диск с программным обеспечением - 1 шт.;
- Соединительные кабели - 3 шт.;
- Руководство по эксплуатации, включающее методику поверки - 1 шт.
- Технические характеристики
Поле зрения 30×40 мм
Диапазон измерений высоты профиля поверхности 0,005 ÷ 30 мкм
Диапазон измерения радиуса кривизны 2000 ÷ 7000 мм
Разрешающая способность
- в плоскости XY
- по оси Z
0,1 мм
0,006 мкм
Источник излучения лазер
Длина волны излучения 0,632 мкм
Алгоритм реконструкции метод фазовых шагов
Размерность изображения 1392×1040 пикселей
Время измерения высоты профиля поверхности, не более 30 сек
Электропитание от сети переменного тока
– напряжение питания
– частота
220 ± 22 В
50 ± 1 Гц
Потребляемая мощность, не более 350 Вт
Габаритные размеры профилометра 220×400×480 мм
Масса профилометра 40 кг
Светлана Михайловна
Менеджер по работе с клиентами